| 慢正电子束研究薄膜、界面和近表面微观结构 |
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| 引用本文： | 翁惠民,周先意,叶邦角,杜江峰,韩荣典.慢正电子束研究薄膜、界面和近表面微观结构[J].物理,2000,29(5):308-312. |
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| 作者姓名： | 翁惠民 周先意 叶邦角 杜江峰 韩荣典 |
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| 作者单位： | 中国科学技术大学近代物理系,合肥,230026 |
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| 摘 要： | 慢正电子束技术十几年来发展起来的探测材料近表面微结构的新手段，文章介绍了其在薄膜、界面和近表面测量的基本方法和部分应用结果。
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| 关 键 词： | 慢正电子束 界面 薄膜 近表面微观结构 |
FILMS, INTERFACES AND NEAR SURFACE STUDIES USING VARIABLE ENERGY POSITRON BEAM |
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| WENG Hui-Min,ZHOU Xian-Yi,YE Bang-Jiao,DU Jiang-Feng,HAN Rong-Dian.FILMS, INTERFACES AND NEAR SURFACE STUDIES USING VARIABLE ENERGY POSITRON BEAM[J].Physics,2000,29(5):308-312. |
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| Authors: | WENG Hui-Min ZHOU Xian-Yi YE Bang-Jiao DU Jiang-Feng HAN Rong-Dian |
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| Abstract: | The use of a variable energy positron beam is a new technique for probing the near surface structure of solids. The basic method and some results for certain films, interfaces and near surfaces are described. |
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| Keywords: | variable energy positron beam S parameter defects interface |
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