|
|||||
|
|
| 泰瑞达推出超大规模集成测试系统INTEGRAJ750：半导体测试技术的突破 | |
| 作者单位： | 迪艾电脑有限公司 |
| 摘 要： | 泰瑞达收到15台系统订单泰瑞达公司集成测试部门——致力于向半导体生产厂商提供高度集成、低成本测试技术的新部门——最近推出超大规模集成测试系统INTEGRA J750系列。泰瑞达已向全球多个用户售出了15台此系统。泰瑞达创新地应用半导体技术将64通道的数字子系统集成在一块板上。这使得INTEGRA J750能够在一个占地面积为零的测试头上提供多达1024个数字通道,这在当今的ATE工业中创下了集成度的最高纪录。该系统的另一大特点便是使用IG-XL测试软件,它是结合了最新PC技术及我们所熟悉的标准Windows |
| 关 键 词： | 半导体测试 集成测试系统 IC |
| 本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录！ | |