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Pt-TiO2,Pt-Ti2O3与Pt-TiO共溅射薄膜模型催化剂上的金属-担体间相互作用II.电子能谱考察
作者姓名:唐胜  熊国兴  王弘立
作者单位:中国科学院大连化学物理研究所(唐胜,熊国兴),中国科学院大连化学物理研究所(王弘立)
摘    要:用XPS与AES(包括深度剖面分析,简称Profile)等电子能谱技术,考察了共溅射方法制备的Pt-TiO_2,Pt-Ti_2O_3和Pt-TiO薄膜模型催化剂在不同温度下氢处理引起的金属-担体相互作用。共溅射薄膜能很好地模拟金属-担体界面层状况。三种样品表现出类似的倾向:在高温氢处理后,CO的吸附被显著抑制,表现出SMSI的特征;同时由XPS检测到表面Pt/Ti原子比明显增大,并伴随有比较稳定的低价钛(Ti~(3+),Ti~(2+))物种生成。这是部分还原的TiO_x扩散进入Pt晶格并与Pt键合成类金属间化合物的结果。还对SMSI的机理进行了讨论。

收稿时间:1987-09-25
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