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| 散射环境下钨的质量吸收系数测量 | |
| 引用本文： | 江孝国,王伟,王婉丽,谭肇,祈双喜,王云秀.散射环境下钨的质量吸收系数测量[J].工程物理研究院科技年报,2008(1). |
| 作者姓名： | 江孝国 王伟 王婉丽 谭肇 祈双喜 王云秀 |
| 摘 要： | CsI：T1晶体在辐射成像系统中的作用是非常重要的，利用CCD作为图像记录的X光探测系统的响应性能与其有密切的关系。为了得到响应关系的大致形式，在30MeV的射频加速器上，曾经用厚度为5，10，20mm的CsI：T1晶体作过研究，对于每一种厚度的CsI：T1晶体，响应还是线性的，但是彼此之间响应度的相对关系还是存在较大差异；由于^60Co放射源的特点，又专门设计了用^60Co放射源作为高能γ光子源来对系统的响应特性作定量研究，并且得到了在几乎没有散射影响下的响应关系，实验结果严格符合理论推导结论， |
| 关 键 词： | 质量吸收系数 辐射成像系统 ^60Co 测量 环境 散射 响应关系 射频加速器 |
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