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Sm2Co17型永磁合金热失效的扫描电子显微镜分析
引用本文:闫耀,包生祥,程玲莉,谭福民,张明.Sm2Co17型永磁合金热失效的扫描电子显微镜分析[J].分析测试技术与仪器,2014(3):160-163.
作者姓名:闫耀  包生祥  程玲莉  谭福民  张明
作者单位:电子科技大学 电子薄膜与集成器件国家重点实验室, 四川 成都 610054;电子科技大学 电子薄膜与集成器件国家重点实验室, 四川 成都 610054;西南应用磁学研究所, 四川 绵阳 621000;西南应用磁学研究所, 四川 绵阳 621000;西南应用磁学研究所, 四川 绵阳 621000
摘    要:高温度稳定型Sm2Co17永磁体的磁性能会随着使用温度的提高有所下降.为了探究高温对合金微观结构的影响,对该材料进行差热分析后得到3个明显的相变温度点:254、342和540℃.然后取同一批次的该磁体在上述温度下分别进行热处理30 min,并使用扫描电子显微镜和X射线能谱仪对处理后样品进行显微结构和成分分析.结果表明,Cu和Fe的析出和氧化是材料磁性能失效的原因,分析结果对预防该类材料失效提供了微观依据.

关 键 词:SmCo型永磁合金  热处理  失效分析
收稿时间:2014/9/12 0:00:00
修稿时间:2014/9/29 0:00:00

Scanning Electron Microscope Analysis of Sm2Co17 Type Permanent Magnet Alloy for High Temperature
YAN Yao,BAO Sheng-xiang,CHENG Ling-li,TAN Fu-ming and ZHANG Ming.Scanning Electron Microscope Analysis of Sm2Co17 Type Permanent Magnet Alloy for High Temperature[J].Analysis and Testing Technology and Instruments,2014(3):160-163.
Authors:YAN Yao  BAO Sheng-xiang  CHENG Ling-li  TAN Fu-ming and ZHANG Ming
Institution:State Key Laboratory of Electronic Thin Films and Integrated Devices, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu 610054, China;State Key Laboratory of Electronic Thin Films and Integrated Devices, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu 610054, China;Southwest Institute of Applied Magnetics, Mianyang 621000, China;Southwest Institute of Applied Magnetics, Mianyang 621000, China;Southwest Institute of Applied Magnetics, Mianyang 621000, China
Abstract:
Keywords:Sm2Co17 type permanent magnetic alloy  heat treat  failure analysis
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