Bestimmung von Elementspuren in Niob durch ICP-AES und ICP-MS mit und ohne Spuren-Matrix-Trennung

Zusammenfassung Für die Spurenanalyse in hochreinem Niob werden die durch ICP-AES und ICP-MS erreichbaren Grenzen gezeigt. Zur weiteren Senkung der Nachweisgrenzen ist eine Spuren-Matrix-Trennung (SMT) erforderlich. Hierfür werden Verfahren mittels Cellulose-Hyphan im Satzbetrieb und mittels Kationenaustauscher im Säulenbetrieb beschrieben. Letzteres hat den Vorteil geringerer Blindwerte und besserer Routinefähigkeit.

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Determination of traces in niobium by ICP-AES and ICP-MS with and without trace-matrix separation

Summary The limitations of direct trace determinations in high purity niobium by ICP-AES and ICP-MS are evaluated. Further improvement of the detection limits requires previous trace-matrix separations. A batch procedure with cellulose-Hyphan as collector and a column procedure with a cation exchange resin are described. The latter is less prone to contaminations and more suitable for routine applications.