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一种简便有效的多孔硅后处理新方法
引用本文:
熊祖洪,刘小兵,廖良生,袁帅,何钧,周翔,曹先安,丁训民,侯晓远.一种简便有效的多孔硅后处理新方法[J].半导体学报,1998,19(6):458-462.
作者姓名:
熊祖洪
刘小兵
廖良生
袁帅
何钧
周翔
曹先安
丁训民
侯晓远
作者单位:
[1]复旦大学应用表面物理国家重点实验室 [2]长沙电力学院物理系
摘 要:
本文报道了一种简便有效的多孔硅(PS)后处理新方法,即在(NH4)2S/C2H5OH溶液中浸泡PS,并用紫外光辐照激发.后处理PS的光致发光(PL)强度约为未经处理的5倍;样品处理后的PL峰值90min内随激光连续激发时,在大气中呈现先指数衰减后线性增长,在真空(约1Pa)中却呈现一直衰减到一个稳定值的新特点.通过样品的傅里叶变换红外吸收(FTIR)谱的测试与分析,表明后处理在样品表面产生了SiH(O3)、Si-O-Si和Si3N4三种提高PS的PL强度和稳定性的优质钝化膜
关 键 词:
多孔硅
发光器件
全硅基
光电子集成
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