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确定应力强度因子的光弹性法与焦散线法
引用本文:张忠平, 孙中禹, 孙强. 2001. 确定应力强度因子的光弹性法与焦散线法. 应用力学学报, 18(3): 100-104. doi: 10.3969/j.issn.1000-4939.2001.03.018
作者姓名:张忠平  孙中禹  孙强
作者单位:空军工程大学
摘    要:以光弹性法及焦散线法的基本原理为基础,对两种方法在确定应力强度因子方面进行了比较 .发现对于纯Ⅰ型裂纹问题,光弹性法的精度低于焦散线法的精度;对于Ⅰ-Ⅱ混合型裂纹问题,就张开型应力强度因子而言,光弹性法的精度低于焦散线法的精度,而就滑移型应力强度因子而言,光弹性法的精度高于焦散线法的精度.

关 键 词:应力强度因子   光弹性法   焦散线法   比较
文章编号:1000-4939(2001)03-0100-05
修稿时间:1999-11-23
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