蔡氏非线性电路的深入研究——参数测量和实验现象观察的新方法 |
| |
作者姓名: | 罗页 乐永康 |
| |
作者单位: | 复旦大学物理学系,上海,200433 |
| |
基金项目: | 国家基础科学人才培养基金项目 |
| |
摘 要: | 精确测量了电路中各个元件的参数,为各种混沌现象的定量分析和数值模拟提供了可能;提出了一种新的测量非线性负阻方法,能精确而快捷地测量非线性负阻完整的,I-U曲线;利用这种测量方法的实验电路,可以直接演示电路出现各种混沌现象时非线性负阻对应的工作区段,展示了非线性负阻在蔡氏电路产生混沌过程中所起的决定性作用,有利于学生更好地理解混沌现象产生的机理.
|
关 键 词: | 蔡氏电路 负阻测量新方法 混沌现象演示 负阻状态与混沌现象的关联 |
本文献已被 万方数据 等数据库收录! |
|