| 二安替比林甲烷光度法测定工业硅中钛 |
| |
| 引用本文： | 王永双,张俊安,朱利斌,余磊.二安替比林甲烷光度法测定工业硅中钛[J].理化检验(化学分册),2002,38(12):627-627,630. |
| |
| 作者姓名： | 王永双 张俊安 朱利斌 余磊 |
| |
| 作者单位： | 襄樊出入境检验检疫局,襄樊 441003 |
| |
| 摘 要： | 工业硅中杂质元素的测定 ,一般只测定其中的铁、铝、钙含量1,2 ] 。在近年的出口工业硅检验中 ,对钛也提出检测要求。本法采用二安替比林甲烷光度法3 ] 测定工业硅中钛 ,方法简便、稳定 ,结果准确。1 试验部分1.1 仪器与试剂ＴＵ 190 1分光光度计 (北京普析通用仪器公司 )Ｔｉ(Ⅳ )标准溶液 :0 .1ｍｇ·ｍｌ- 1,称取高纯二氧化钛 0 .16 6 8ｇ于铂金坩埚中 ,加焦硫酸钾 5～ 7ｇ于6 0 0℃熔融 ,冷却 ,用Ｈ2 ＳＯ4 (5 + 95 ) 10 0ｍｌ浸提熔块后移入 1Ｌ容量瓶中 ,并以Ｈ2 ＳＯ4 (5 + 95 )稀至刻度。使用时再稀释成 5 μｇ·ｍｌ- 1标准工…
|
| 关 键 词： | 二安替比林甲烷 光度法 测定 工业硅 钛 杂质分析 |
| 文章编号： | 1001-4020(2002)12-0627-01 |
Photometric Determination of Titanium in Industrial Pure Silicon with Diantipyrinylmethane as Color Reagent |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ |
|
