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用XPS研究GD-a-Si_xC_(1-x):H膜中等离子体激元的特征
作者姓名:陈光华  张仿清  徐希翔
作者单位:兰州大学物理系(陈光华,张仿清),兰州大学物理系(徐希翔)
摘    要:对于GD-a-Si_xC(1-x):H薄膜进行了XPS分析,得到了一些与Katayama相类似的结果。本文将给出GD-a-Si_xC_(1-x):H样品的价电子等离子激元(Plasmon)的频率ω_p以及原子浓度(N_(si) N_C N_H)随样品含碳量的变化,Si2p和C1s芯电子结合能随含碳量变化的化学移动,并对这些结果进行了初步的分析。

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