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Design and Fabrication of Schottky Diode with Standard CMOS Process
作者姓名:Li Qiang  Wang Junyu  Han Yifeng  and Min Hao
作者单位:复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室 上海200433 (李强,王俊宇,韩益锋),复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室 上海200433(闵昊)
基金项目:国家高技术研究发展计划(863计划)
摘    要:Design and fabrication of Schottky barrier diodes (SBD) with a commercial standard 0.35μm CMOS process are described.In order to reduce the series resistor of Schottky contact,interdigitating the fingers of schottky diode layout is adopted.The I-V,C-V,and S parameter are measured.The parameters of realized SBD such as the saturation current,breakdown voltage,and the Schottky barrier height are given.The SPICE simulation model of the realized SBDs is given.

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Design and Fabrication of Schottky Diode with Standard CMOS Process
Li Qiang,Wang Junyu,Han Yifeng,and Min Hao.Design and Fabrication of Schottky Diode with Standard CMOS Process[J].Chinese Journal of Semiconductors,2005,26(2):238-242.
Authors:Li Qiang  Wang Junyu  Han Yifeng  MIN Hao
Abstract:
Keywords:CMOS  Schottky diode  integration
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