| 电沉积法制备用于一维纳米材料电子输运性质测量的基底 |
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| 引用本文： | 刘进轩,向娟,田中群,毛秉伟.电沉积法制备用于一维纳米材料电子输运性质测量的基底[J].电化学,2004,10(1):20-26. |
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| 作者姓名： | 刘进轩 向娟 田中群 毛秉伟 |
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| 作者单位： | 固体表面物理化学国家重点实验室厦门大学化学系,固体表面物理化学国家重点实验室厦门大学化学系,固体表面物理化学国家重点实验室厦门大学化学系,固体表面物理化学国家重点实验室厦门大学化学系 福建厦门361005
,福建厦门361005
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| 基金项目： | 国家自然科学基金项目 (2 0 0 2 1 0 0 2 ,2 0 0 1CB61 0 50 ,2 0 0 2 3 0 56)，国家教育部博士点基金资助 |
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| 摘 要： | 应用电沉积方法制备两种低粗糙度、具有导电/绝缘交接结构的测量基底—Au/CuO和HOPG/CuO,并在带导电针尖的原子力显微测量(CT＿AFM)平台上建立了简便的一维纳米材料轴向电子输运性质测量方法.在大气室温条件下,对组装在两种基底上的单束碳纳米管轴向电学性质进行了定性测量,结果表明,该碳纳米管呈现金属性.
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| 关 键 词： | 一维纳米材料 CT_AFM I_E特性曲线 碳纳米管 |
| 文章编号： | 1006-3471(2004)01-0020-07 |
| 收稿时间： | 2004-02-28 |
| 修稿时间： | 2003年8月1日 |
Substrates Made by Electrodeposition for Measuring Electrical Properties of One Dimensional Nanomaterials |
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| Abstract: | A method to prepare alternating conducting/insulating substrates by electrodeposition-oxidation was established to facilitate I-E measurements of one-dimensional nanomaterial by CT-AFM. The prepared Au/CuO and HOPG/CuO substrates showed low roughness as well as high uniformity of the alternating conducting/insulating structure, Qualitative I-E measurements were performed on a single carbon nanotube attached to the two above-mentioned substrates, both showing metallic characteristics at room temperature and in air. |
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| Keywords: | One dimensional material I-E characteristics curve Conducting tip AFM Carbon nanotube |
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