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光学仪器象质和公差的相互关系
引用本文:陶凤翔.光学仪器象质和公差的相互关系[J].光学技术,1986(3).
作者姓名:陶凤翔
摘    要:<正> 一、引言众所周知,光学设计人员要设计一个光学系统,既要使它达到如系统的总焦距、视场、放大率、后截距等许多指标,又要通过光学计算使系统的象质满足设计要求。同时在它的加工和装配过程中,允许有较大的误差(即“公差容限”)。很显然,在系统的象质满足设计要求的条件下,公差容限愈大,光学系统的加工和装配愈方便,这样可以降低成本,适合于仪器的大批量生产。至此就涉及到如何确定合理的公差容限的问题。目前,人们根据长期积累的经验,通过近似公式的估算,来确定公差的容限。但是,由于光学系统中各镜面在加工和装配中的误差,使它成为一个非共轴的系统。例如,镜面之间的不同心和透镜与镜框之间间隙导致光轴

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