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| 角分辨XPS对自组装单分子层厚度和官能团位置的定性及定量研究 | |
| 引用本文： | 张祺,何会新.角分辨XPS对自组装单分子层厚度和官能团位置的定性及定量研究[J].化学物理学报,1997,10(3):201-204. |
| 作者姓名： | 张祺 何会新 |
| 作者单位： | [1]北京大学物理化学研究所 [2]北京大学化学系 |
| 摘 要： | 用角分辨ＸＰＳ（Ａｎｇｌｅ－ｒｅｓｏｌｖｅｄＸＰＳ）研究研究了ＨＳ（ＣＨ２）１０ＣＯＯＨ（Ｉ）ＨＳ（ＣＨ２）３ＯＣ６Ｈ４Ｎ＝ＮＣ６Ｈ４（ＣＨ２）７ＣＨ３（ＩＩ）和ＨＳ（ＣＨ２）６ＨＳ（Ⅲ）３种分子在Ａｕ膜表面制备的自组装单分子层，得出了（Ｉ）中Ｓ原子，（Ⅱ）中Ｓ，Ｎ原子距膜表面的垂直距离，并结合构象分析确定了分子的取向和倾角，对分子（Ⅲ）则得出分子在紫外光照射下氧化反应的选择性，发现氧化主要在底层 |
| 关 键 词： | 角分辨XPS 自组装单分子层 XPS SAMS |
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