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半导体器件封装的发展
引用本文:
Philip M Snyder ,蔡菊荣.半导体器件封装的发展[J].微电子学,1984(1).
作者姓名:
Philip M Snyder
蔡菊荣
摘 要:
除了一些可靠性极高的器件以外,目前大多数集成电路正在采用环氧树脂封装。改善封装模塑化合物的防湿性、热应力和热冲击容限、减小由α粒子引起的软误差以及可塑性等的工作正在取得明显的进展。
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