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| 厚膜成膜工艺与电阻稳定性关系的研究 | |
| 引用本文： | 王丽莎,刘利,任荣,薛静蓉.厚膜成膜工艺与电阻稳定性关系的研究[J].电子测试,2019(21). |
| 作者姓名： | 王丽莎 刘利 任荣 薛静蓉 |
| 作者单位： | 陕西华经微电子股份有限公司,陕西西安,710065 |
| 摘 要： | |
| 关 键 词： | 厚膜电阻 稳定性 影响因素 |
| 本文献已被 万方数据 等数据库收录！ | |
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