| 集成电路粘片机视觉检测技术研究 |
| |
| 引用本文： | 郭强生,靳卫国,周庆亚.集成电路粘片机视觉检测技术研究[J].电子工业专用设备,2005,34(7):34-40. |
| |
| 作者姓名： | 郭强生 靳卫国 周庆亚 |
| |
| 作者单位： | 中国电子科技集团公司第四十五研究所,北京东燕郊,101601;中国电子科技集团公司第四十五研究所,北京东燕郊,101601;中国电子科技集团公司第四十五研究所,北京东燕郊,101601 |
| |
| 摘 要： | 集成电路粘片机是将半导体晶圆上微芯片贴装到引线基架的半导体制造后工序关键性生产设备。基于视觉检测的全自动集成电路粘片机,其视觉检测技术是关键及核心技术。利用图像处理、模式识别技术,采用固定阈值分割、图像投影、像素统计、区域生长、边界坐标点提取、模板匹配等方法,完成了待检测芯片的定位与墨点、缺角、崩边、角度偏移等芯片缺陷的检测。实现了贴装过程中芯片识别检测功能。
|
| 关 键 词： | 集成电路 视觉检测 粘片机 |
| 文章编号： | 1004-4507(2005)07-0034-07 |
| 修稿时间： | 2005年5月28日 |
Vision Inspection Technology of IC Die Bonder |
| |
| GUO Qiang-sheng,JIN Wei-guo,ZHOU Qing-ya.Vision Inspection Technology of IC Die Bonder[J].Equipment for Electronic Products Marufacturing,2005,34(7):34-40. |
| |
| Authors: | GUO Qiang-sheng JIN Wei-guo ZHOU Qing-ya |
| |
| Abstract: | IC Die Bonder is key equipment which binds semiconductor microchip onto Lead Frame in semiconductor back-end production. Visual inspection are crucial to IC Die Bonder's control system. The thesis utilizes methods of Image Processing and Pattern Recognition to complete location detection and defects detection of microchip. It uses and improves algorithms - fixed threshold segmentation, image projection, pixel number statistics, region growing, edge pixel set extract and template match - in visual inspection and achieves good results. discusses control sequence in system to solve control problems of IC Die Bonder - mutil-axis linkage, mutil-sequence cooperation and high- speed high-accuracy movement control. |
| |
| Keywords: | IC Die Bonder Visual Inspection |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ |
|
