同时鉴定斜长石成分和结构状态的X射线粉末法 |
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引用本文: | 苏树春,叶大年.同时鉴定斜长石成分和结构状态的X射线粉末法[J].中国科学A辑,1981,24(1):61-66. |
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作者姓名: | 苏树春 叶大年 |
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作者单位: | 中国科学院地质研究所 |
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摘 要: | 将2θ(204)-2θ(400)角度差(称为E函数),与△θ1=2θ(131)-2θ(131),△θ2=2θ(241)-2θ(241),Γ=2θ(131)+2θ(220)-4θ(131)或△θ1-△θ2等角度差相配合,可以对An0—An70范围内的斜长石An含量和结构状态作出合理的鉴定.将E=2θ(204)-2θ(400)CuKα分别投于△θ1—An(mol%),△θ2—An(mol%),Γ—An(mol%)和△θ1—△θ2—An(mol%)图中,即得到四个鉴定图(图1—4).运用本文的方法,在一未知斜长石的x射线粉末衍射图中测定出所需反射的2θ值,再将有关的2θ差值投于相应的鉴定图中,便可容易地同时鉴定出该斜长石的An含量和结构状态.
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