| nm级制造用三维微定位的扫描探针显微镜 |
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| 引用本文： | 张鸿海,李文菊,师汉民,陈日曜.nm级制造用三维微定位的扫描探针显微镜[J].华中科技大学学报(自然科学版),1996(4). |
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| 作者姓名： | 张鸿海 李文菊 师汉民 陈日曜 |
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| 摘 要： | 介绍一种用于ｎｍ级制造具有ｘｙｚ三维微定位能力的扫描探针显微镜（ＳＰＭ）．采用电磁足周期性地夹紧与松开，结合压电陶管的轴向伸缩变形的微位移爬行器构成三维微定位机构．扫描范围可达２０μｍ×２０μｍ，且探针可在样品表面ｘ和ｙ方向上１０ｍｍ×１０ｍｍ范围内实行ｎｍ级的定位．探针在ｚ方向接近样品表面也可自动进行．给出了微定位器的运动分辨率、速度与工作频率，以及在扫描道显微（ＳＴＭ）方法下测得的高定向石墨表面原子图像
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| 关 键 词： | nm级制造 大工作范围 三维微定位 扫描探针显微技术 |
A Scanning Probe Microscope with Three Dimensional Micropositioning for Nanofabrication |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | nanofabrication wide working range 3 D micropositioning scanning probe microscopy |
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