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| 单晶材料的表面缺陷测量新方法 | |
| 摘 要： | <正>单晶材料表面缺陷测量解决方案:使用X射线定向仪对晶体表面进行测量,通过半峰宽对晶体表面生长的完整性进行品质评价;该设备具有检测过程无破坏性,重复性检测精度高,准确性高等特点,使检测简单、快捷,使用方便。丹东新东方晶体仪器有限公司成立20多年来,专注于生产各种型号定向仪。点击网页欢迎光临真诚合作共创辉煌 |
| 关 键 词： | 表面缺陷 单晶材料 晶体表面 半峰宽 品质评价 specialized repetitive convenient destructive integrity |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |