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直流溅射缓冲层生长ZnO/Si薄膜
引用本文:姚然,朱俊杰,段理,朱拉拉,傅竹西.直流溅射缓冲层生长ZnO/Si薄膜[J].人工晶体学报,2006,35(1):135-138.
作者姓名:姚然  朱俊杰  段理  朱拉拉  傅竹西
作者单位:中国科学技术大学物理系,合肥,230026
基金项目:国家自然科学基金资助项目(No.90201038No.50472009No.10474091)
摘    要:ZnO是一种新兴的的宽禁带半导体材料,相对于传统的宽禁带材料有很多的优势.在相对成本低廉的Si衬底上生长ZnO薄膜是现在攻关的热门课题.目前用缓冲层方法生长ZnO薄膜取得了一些突破.本文利用直流溅射,先在Si衬底上溅射一层ZnO多晶薄膜,通过对直流溅射时间的控制,可以得到不同厚度的ZnO缓冲层.再利用MOCVD设备生长高质量的ZnO薄膜.通过研究发现,直流溅射ZnO薄膜的厚度对于最终的薄膜质量有很大的影响.随着缓冲层的引入,双晶衍射XRD的摇摆半宽有显著下降,并且随着最终ZnO薄膜质量上升,光致发光也有显著的提升.可见缓冲层的引入对ZnO/Si薄膜的质量和发光强度有很大的贡献.

关 键 词:氧化锌  直流溅射  MOCVD  缓冲层  
文章编号:1000-985X(2006)01-0135-04
收稿时间:2005-07-14
修稿时间:2005-07-14

Growth of ZnO Thin Films on Silicon Substrate with Sputtering Buffer Layer by LP-MOCVD
YAO Ran,ZHU Jun-jie,DUAN Li,ZHU La-la,FU Zhu-xi.Growth of ZnO Thin Films on Silicon Substrate with Sputtering Buffer Layer by LP-MOCVD[J].Journal of Synthetic Crystals,2006,35(1):135-138.
Authors:YAO Ran  ZHU Jun-jie  DUAN Li  ZHU La-la  FU Zhu-xi
Institution:Department of Physics, University of Science and Technology of China, Hefei 230026, China
Abstract:
Keywords:ZnO  sputtering  MOCVD  buffer layer
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