| 电子元器件屏蔽封装材料的屏蔽效果 |
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| 引用本文： | 文林,张军,郭旗,任迪远,孙静,郑玉展,王改丽.电子元器件屏蔽封装材料的屏蔽效果[J].新疆大学学报(理工版),2008,25(3). |
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| 作者姓名： | 文林 张军 郭旗 任迪远 孙静 郑玉展 王改丽 |
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| 作者单位： | [1]新疆大学物理科学与技术学院,新疆乌鲁木齐830046 [2]中国科学院新疆理化技术研究所,新疆乌鲁木齐830011 |
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| 摘 要： | 针对电子元器件屏蔽封装材料的屏蔽效果评估方法及理论计算在器件屏蔽封装中应用的问题,本文通过理论计算一种屏蔽材料对1.0MeV电子的屏蔽效果,以及对应的实验验证,指出此种屏蔽材料有很好的屏蔽电子辐射作用.研究证明了理论与实验相互验证的方法能很好的评估屏蔽材料的屏蔽效果,同时指出理论计算的结果能在屏蔽材料设计中作为依据.
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| 关 键 词： | 屏蔽材料 理论计算 电子辐照 |
Effectiveness of Electronic Device Shielded Packages |
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| WEN Lin,ZHANG Jun,GUO Qi,REN Di-yuan,SUN Jing,ZHENG Yu-zhan,WANG Gai-li.Effectiveness of Electronic Device Shielded Packages[J].Journal of Xinjiang University(Science & Engineering),2008,25(3). |
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| Authors: | WEN Lin ZHANG Jun GUO Qi REN Di-yuan SUN Jing ZHENG Yu-zhan WANG Gai-li |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | MOS |
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