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一种基于偏振光干涉的直线度测量系统
引用本文:肖胜,周易,冯胜东,康吉. 一种基于偏振光干涉的直线度测量系统[J]. 光学与光电技术, 2014, 12(5): 51
作者姓名:肖胜  周易  冯胜东  康吉
作者单位:肖胜:海军驻中南地区光电系统军事代表室, 湖北 武汉 430223
周易:国网湖北省电力公司, 湖北 武汉 430077
冯胜东:华中科技大学机械学院仪器系, 湖北 武汉 430223
康吉:华中科技大学机械学院仪器系, 湖北 武汉 430223
摘    要:介绍了一种基于偏振光干涉的直线度测量系统,该系统由固定部分和活动部分组成。测量时,活动部分固定在被测要素上。被测要素的直线度变化将导致两线偏振光相位的变化。通过计量干涉条纹即可得到直线度的变化结果。实验显示本测量系统具有10nm的分辨率,在20mm的测量范围内误差≤0.5μm,提高了分辨率和测量精度。

关 键 词:直线度  测量  偏振光干涉  相位  系统
收稿时间:2014-06-13

A Measurement Method System Based on Interference of Polarized Light
Abstract:
Keywords:straightness  measurement  interference of polarized light  phase  system
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