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CID-ICP-AES测定高纯水中微量杂质的研究
引用本文:辛仁轩,宋崇立.CID-ICP-AES测定高纯水中微量杂质的研究[J].光谱实验室,1999,16(4):349-353.
作者姓名:辛仁轩  宋崇立
作者单位:清华大学核能技术研究院,北京市海淀区清华园,100084
摘    要:本文研究了用电荷注入检测器(CID)的ICP光谱仪测定高纯水中微量Ca,Mg,Mn,Na,Cr,Ni,Zn,Al、K、Fe、Cu的分析方法。试验了高频功率、载气压力对测定的影响。讨论了上述元素用不同波长分析线绘制校准曲线的浓度范围及非线性的原因,指出了用固态电荷注入检测器进行多元素分析的特点。

关 键 词:电荷注入检测器  高纯水分析
修稿时间:1998-12-01

Simultaneous Determination of Trace Amount Elements in High Pure Water by CID-ICP-AES
XIN Ren-Xuan,SONG Chong-Li.Simultaneous Determination of Trace Amount Elements in High Pure Water by CID-ICP-AES[J].Chinese Journal of Spectroscopy Laboratory,1999,16(4):349-353.
Authors:XIN Ren-Xuan  SONG Chong-Li
Abstract:
Keywords:ICP-AES
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