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| 电场对Au—Ag薄膜结构影响的AFM和VAXPS研究 | |
| 引用本文： | 时方晓,董宇辉.电场对Au—Ag薄膜结构影响的AFM和VAXPS研究[J].化学物理学报,1998,11(3):261-266. |
| 作者姓名： | 时方晓 董宇辉 |
| 作者单位： | 清华大学化学系 |
| 摘 要： | 利用原子力显微镜（ＡＦＭ）和变角Ｘ射线光电子谱（ＶＡＸＰＳ）技术研究了Ａｕ－Ａｇ／ＳｉＯ２体系在直流电场作用下，Ａｕ，Ａｇ电迁移的特点及所引起的薄膜结构的变化，观察到较低温度下Ａｕ，Ａｇ聚集状态的显著变化，发现电迁移过程中Ａｕ－Ａｇ薄膜与ＳｉＯ２基底之间存在界面化学反应，膜层中Ａｕ，Ａｇ，Ｓｉ等元素的化学状态发生了相应的变化，这些结构表明ＳｉＯ２表面上Ａｕ－Ａｇ复合薄膜电迁移不只是一个水平方向的扩 |
| 关 键 词： | 电迁移 AFM VAXPS Au－Ag薄膜 复合薄膜 金 银 |
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