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两步生长法生长的Inx Ga1-x As/GaAs材料及性质
引用本文:韩智明,缪国庆,曾玉刚,张志伟.两步生长法生长的Inx Ga1-x As/GaAs材料及性质[J].发光学报,2015(3):288-292.
作者姓名:韩智明  缪国庆  曾玉刚  张志伟
作者单位:1. 发光学及应用国家重点实验室 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,吉林 长春 130033; 中国科学院大学,北京 100049
2. 发光学及应用国家重点实验室 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,吉林 长春,130033
基金项目:“973”国家重点基础研究发展计划(2012CB619201);吉林省科技发展计划(20140520117JH)资助项目
摘    要:利用LP-MOCVD技术,采用两步生长法在GaAs(100)单晶衬底上外延生长InxGa1-xAs材料。通过扫描电子显微镜( SEM)与原子力显微镜( AFM)观察了缓冲层厚度对外延层表面形貌、表面粗糙度的影响;利用X射线衍射( XRD)分析了缓冲层厚度对外延层结晶质量的影响;利用拉曼光谱分析了缓冲层厚度对外延层材料合金有序度的影响;通过透射电子显微镜( TEM)观察了外延层材料位错的分布状态,计算了外延层的位错密度。实验结果表明,两步生长法生长的Inx Ga1-x As/GaAs异质结材料的缓冲层厚度存在一个最优值。

关 键 词:两步生长法  GaAs  InGaAs  MOCVD

Properties of InGaAs Deposited on GaAs Substrate with Two-step Growth
HAN Zhi-ming , MIAO Guo-qing , ZENG Yu-gang , ZHANG Zhi-wei.Properties of InGaAs Deposited on GaAs Substrate with Two-step Growth[J].Chinese Journal of Luminescence,2015(3):288-292.
Authors:HAN Zhi-ming  MIAO Guo-qing  ZENG Yu-gang  ZHANG Zhi-wei
Institution:HAN Zhi-ming;MIAO Guo-qing;ZENG Yu-gang;ZHANG Zhi-wei;State Key Laboratory of Luminescence and Applications,Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,Chinese Academy of Sciences;University of Chinese Academy of Sciences;
Abstract:
Keywords:two step growth  GaAs  InGaAs  MOCVD
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