| 一种高速片内电流监控器实现 |
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| 引用本文： | 郭慧,冯建华.一种高速片内电流监控器实现[J].微电子学与计算机,2008,25(2):140-143. |
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| 作者姓名： | 郭慧 冯建华 |
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| 作者单位： | 1. 北京大学,深圳研究生院,广东,深圳,518055;北京大学,微电子系,北京,100871
2. 北京大学,微电子系,北京,100871 |
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| 摘 要： | 静态电流(IDDQ)测试的实现方法研究是IDDQ测试领域的重要内容之一,高速、高精度是共同追求的目标。通过分析测试向量改变时流过被测电路的电源电流变化情况,得出制约IDDQ测试速度的主要因素。基于此,采用CMOS0.5μm工艺参数、SPICE仿真工具和模拟集成电路设计规则,提出一种快速、高精度的BICS(片内电流监控器)的设计方案。设计中利用辅助的PMOS开关管和延迟电路,有效地解决测试速度问题。设计出的电路达到了100MHz的测试速率、1A测量精度、500mV的最大电源电压降、50μA以上的故障电流检测能力,可以满足一定的实际应用需要。
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| 关 键 词： | 电流监控器 IDDQ IDDQ测试 BICS 测试速度 |
| 文章编号： | 1000-7180（2008）02-0140-04 |
| 收稿时间： | 2007-01-13 |
| 修稿时间： | 2007年1月13日 |
A High-Speed Built-in Current Sensor Implementation |
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| GUO Hui,FENG Jian-hua.A High-Speed Built-in Current Sensor Implementation[J].Microelectronics & Computer,2008,25(2):140-143. |
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| Authors: | GUO Hui FENG Jian-hua |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | current sensor IDDQ IDDQ testing BICS test Speed |
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