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多个Josephson结性能测试系统与实验验证
作者姓名:陈桦  张国峰  邱阳  徐小峰  王永良  孔祥燕
作者单位:中国科学院上海微系统与信息技术研究所信息功能材料国家重点实验室;中国科学院大学;
基金项目:中国科学院战略性先导科技专项(B类))(批准号:XDB04010100)资助的课题~~
摘    要:在器件制备过程中,超导量子干涉器件(SQUID)和Josephson结的性能测试是非常重要是一个环节.设计一个合理高效的测试方法对于提高测试效率及可靠性非常必要.本文采用多路复用技术,设计了8通道测试电路,减小了电路面积及所需测试箱体积,降低了液氦使用成本并极大提高了测试一致性.本文对测试箱、器件放置及测试杆连接等进行了设计,成功搭建了一套多个Josephson结测试的系统,并根据常温验证的测试结果对电路进行了优化处理.最后,对多个结进行低温测试验证了该测试系统的可行性与优越性.

关 键 词:超导量子干涉器件  约瑟夫森结  测试电路  多通道
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