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非球面条纹扫描式剪切干涉检验法
引用本文:Toyohiko Yatagai,伍凡.非球面条纹扫描式剪切干涉检验法[J].应用光学,1986(4).
作者姓名:Toyohiko Yatagai  伍凡
摘    要:本文论述用横向剪切干涉仪精确测量光学非球面波象差的方法。用计算机控制干涉相位测量技术,可进行高精度的检测和实时数据分析。本系统主要由有平行平板的横向剪切干涉仪、压电式驱动反射镜、象探测器和具有图象显示的微处理机组成。剪切干涉仪产生与波面导数相应的条纹图,用条纹扫描方法进行分析。对所得数据积分,便可求出波象差。对相对孔径为f/4的非球条面反射镜进行测量,测量精度为1/32λ均方根。

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