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杂志ISSN号
测量固体材料热阻和热导率的激光探针
作者姓名:
朱德忠
赵向伟
作者单位:
清华大学(朱德忠),清华大学(赵向伟)
摘 要:
一、引言 电子器件尤其是功率器件,芯片的发热是通过外壳将热量散走。外壳热阻将严重影响功率管的散热性能。为了给功率管提供散热性能良好的外壳,测试外壳热阻是十分必要的。根据功率晶体管的热阻概念引进外壳热阻的定义。功率晶体管的热阻是芯片
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