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| 测量固体材料热阻和热导率的激光探针 | |
| 作者姓名： | 朱德忠 赵向伟 |
| 作者单位： | 清华大学(朱德忠)，清华大学(赵向伟) |
| 摘 要： | 一、引言 电子器件尤其是功率器件,芯片的发热是通过外壳将热量散走。外壳热阻将严重影响功率管的散热性能。为了给功率管提供散热性能良好的外壳,测试外壳热阻是十分必要的。根据功率晶体管的热阻概念引进外壳热阻的定义。功率晶体管的热阻是芯片 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |
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