ESD测试门禁提高电子生产安全性 |
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引用本文: | 孙俊杰.ESD测试门禁提高电子生产安全性[J].中国电子商情,2010(9):68-69. |
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作者姓名: | 孙俊杰 |
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作者单位: | 《中国电子商情》编辑部 |
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摘 要: | 在干燥的冬天,静电常让人遭遇瞬间被电击的一惊。在电子生产车间,如SMT生产线管制区、半导体业无尘室、半导体装配生产线,静电更是无处不在,而静电带来的高电压,也会对众多敏感电子元件带来损害,有时甚至会造成击穿而失效。
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关 键 词: | 电子元件 安全性 ESD 装配生产线 门禁 测试 半导体业 生产车间 |
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