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| 数学校正法在高合金钢X射线荧光光谱分析中的应用 | |
| 引用本文： | 谢荣厚.数学校正法在高合金钢X射线荧光光谱分析中的应用[J].光谱学与光谱分析,1986(4). |
| 作者姓名： | 谢荣厚 |
| 作者单位： | 北京钢铁研究总院 |
| 摘 要： | 本文提出数学校正法在高合金钢X射线荧光光谱分析中的应用,基体效应采用D.J.、CQ和菲利浦三种不同数学公式来校正,结果表明CQ和菲利浦公式应用含量范围宽,镍含量从3.10—42%。K值为0.017左右,几乎接近标准试样的准确度。 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |
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