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ARL9400型X射线荧光光谱仪场效应管损坏故障排除
引用本文:徐大刚,华兰,王曙光.ARL9400型X射线荧光光谱仪场效应管损坏故障排除[J].化学分析计量,2004,13(3):46-47.
作者姓名:徐大刚  华兰  王曙光
作者单位:中国兵器工业集团第五三研究所,济南,250031;中国兵器工业集团第五三研究所,济南,250031;中国兵器工业集团第五三研究所,济南,250031
摘    要:介绍由于X射线荧光检测器探头的前置放大电路场效应管损坏而导致X射线光管不能打开的故障原因及故障排除方法。

关 键 词:X射线荧光光谱仪  故障排除  前置放大电路  场效应管
修稿时间:2004年3月28日

TROUBLESHOOTING OF TRANSISTOR IN ARL9400 X-RAY FLUORESCENCE SPECTROGRAPH
Xu Dagang,Hua Lan,Wang Shuguang.TROUBLESHOOTING OF TRANSISTOR IN ARL9400 X-RAY FLUORESCENCE SPECTROGRAPH[J].Chemical Analysis And Meterage,2004,13(3):46-47.
Authors:Xu Dagang  Hua Lan  Wang Shuguang
Abstract:The trouble of disable opening X-ray tube in ARL9400 X-ray fluorescence spectrograph caused by destroied field effect transistor was discussed. The method of troubleshooting was provided.
Keywords:X-ray fluorescence spectrograph  troubleshooting  preamplifier  field effect transistor  
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