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折叠插值ADC边界效应的研究
引用本文:张宝娣,邓红辉,胡逸俊.折叠插值ADC边界效应的研究[J].微电子学,2019,49(5):602-608.
作者姓名:张宝娣  邓红辉  胡逸俊
作者单位:合肥工业大学 微电子设计研究所, 合肥 230009,合肥工业大学 微电子设计研究所, 合肥 230009,合肥工业大学 微电子设计研究所, 合肥 230009
基金项目:中央高校基本科研业务费专项资金资助项目(JD2016JGPY0003)
摘    要:基于折叠插值ADC的研究,改善了平均电阻网络造成的边界效应。采用环形平均电阻网络、边界阻值取为等效电阻的方法来解决边界效应,同时提出了一种新型的边界折叠器结构。该结构应用于第一级边界折叠结构,能有效补偿边界过零点偏移,得到趋于准确的边界过零点,提高了ADC性能。基于TSMC 0.18 μm CMOS工艺,在改善边界效应后对ADC进行仿真。结果表明,该ADC的ENOB为9.11 bit,SFDR为61.69 dB。

关 键 词:折叠插值ADC    边界效应    折叠器    平均电阻
收稿时间:2018/11/28 0:00:00

Research on Boundary Effects of Folding-Interpolating ADC
ZHANG Baodi,DENG Honghui and HU Yijun.Research on Boundary Effects of Folding-Interpolating ADC[J].Microelectronics,2019,49(5):602-608.
Authors:ZHANG Baodi  DENG Honghui and HU Yijun
Institution:Institute of VLSI design,Hefei University of Technology,Hefei 230009,P. R. China,Institute of VLSI design,Hefei University of Technology,Hefei 230009,P. R. China and Institute of VLSI design,Hefei University of Technology,Hefei 230009,P. R. China
Abstract:
Keywords:
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