校正光谱分析谱线干扰的简便方法

本文提出了一种在摄谱法发射光谱分析谱线受干扰时进行校正的简便方法。无需制作乳剂特性曲线,通过控制线与分析线的黑度换算强度值,再由控制线强度计算干扰线的强度,然后从分析线中扣除干扰线强度的复杂校正过程。