| 980 nm大光腔单发光条大功率LD失效分析 |
| |
| 引用本文： | 凌小涵,崔碧峰,张松,王晓玲,刘梦涵,何新. 980 nm大光腔单发光条大功率LD失效分析[J]. 激光与红外, 2015, 45(4): 369-372 |
| |
| 作者姓名： | 凌小涵 崔碧峰 张松 王晓玲 刘梦涵 何新 |
| |
| 作者单位： | 北京市光电子技术实验室 北京工业大学，北京 100124 |
| |
| 基金项目： | 国家自然科学基金（No.611006028）资助 |
| |
| 摘 要： | 采用大光腔结构、真空解理镀膜、腔面非注入区技术制备了980 nm单发光条大功率半导体激光器,其连续输出功率达到12 W。封装后测试,对于同一批量的180只器件进行可靠性测试,经过64 h电老化测试分析,功率基本未发生变化72只,综合成品率达到40%。对失效器件进行综合分析可得,此次试验中,镀膜后分离时产生的膜撕裂是激光器失效的主要原因。
|
| 关 键 词： | 激光器 大功率半导体激光器 老化测试 COD 镀膜 |
Failure analysis of 980 nm large-optical-cavity single light bar high-power LD |
| |
| LING Xiao-han,CUI Bi-feng,ZHANG Song,WANG Xiao-ling,LIU Meng-han,HE Xin. Failure analysis of 980 nm large-optical-cavity single light bar high-power LD[J]. Laser & Infrared, 2015, 45(4): 369-372 |
| |
| Authors: | LING Xiao-han CUI Bi-feng ZHANG Song WANG Xiao-ling LIU Meng-han HE Xin |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ |
| 点击此处可从《激光与红外》浏览原始摘要信息 |
|
点击此处可从《激光与红外》下载全文 |
|
