首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      


Photoacoustic measurements of ion-implanted semiconductors
Authors:T Papa  F Scudieri  D Sette
Institution:(1) Istituto di Fisica della Facoltà d'Ingegneria dell'Università, Roma, Italia;(2) GNSM del CNR, Roma, Italia;(3) Present address: Istituto di Fisica della Facoltà d'Ingegneria, Università di Roma 2 (Tor Vergata) and GNEQP of CNR, Italy
Abstract:Summary We have measured photoacoustic-signal amplitude and phase of ion-implanted semiconductors. The main factors which determine the photoacoustic behaviour of implanted samples are the opticalabsorption coefficient and the thermal conductivity of the implanted layer. For the thermal conductivity of such a layer a value has been found like that for vitreous materials. Experimental results are in agreement with theoretical models which describe the photoacoustic response of a two-layer sample.
Riassunto Sono state eseguite misure di segnale fotoacustico e di fase in semiconduttori impiantati. Le grandezze che caratterizzano il comportamento fotoacustico di tali sistemi sono il coefficiente di assorbimento ottico e la conducibilità termica dello strato impiantato. Si è trovato per lo strato impiantato una conducibilità termica simile a quella dei vetri. I risultati sperimentali sono in accordo con i modelli teorici che descrivono la risposta fotoacustica di campioni costituiti da due strati.

Резюме Измеряются фотоакустические ситналы и фазы в ионно-имплантированных полупроводниках. Основные величины, которые характеризуют фотоакустическое поведение имплантированных образцов, представляют коэффициент оптического поглощения и теплопроводность имплантированного слоя. Для теплопроводности имплантированного слоя получена беличина аналогичная для стеклообразных материалов. Экспериментальные результаты согласуются с теоретнческими моделями, которые описывают фотоакустический отклик для двухслойного образца.


To speed up publication, the authors of this paper have agreed to not receive the proofs for correction.
Keywords:
本文献已被 SpringerLink 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号