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| 纳米金刚石薄膜的扫描探针及微观场发射性能研究 | |
| 引用本文： | 陈建,张卫红,薛坤,安锦. 纳米金刚石薄膜的扫描探针及微观场发射性能研究[J]. 分析测试学报, 2006, 25(Z1): 197-198 |
| 作者姓名： | 陈建 张卫红 薛坤 安锦 |
| 作者单位： | 1. 中山大学,测试中心,广东,广州,510275;中山大学,显示材料与技术广东省重点实验室,广东,广州,510275 2. 中山大学,测试中心,广东,广州,510275 3. 香港中文大学,电子工程系,香港,新界 |
| 基金项目： | 国家自然科学基金;广东省自然科学基金 |
| 摘 要： | 纳米金刚石薄膜作为真空电子场发射器件的一种重要材料,由于其优异的物理化学性能和良好的场发射能力而日益得到广泛的研究和应用[1-2].电子场发射性能与金刚石薄膜的表面形貌、电导和电子表面态等密切相关,对其纳微结构与场发射性能之间的内在联系的研究业已引起广泛重视,一些研究表明金刚石薄膜表面存在促进场发射的导电通道或二次晶粒之间的晶界[3-4]. 本文从扫描探针技术(包括AFM、KFM、STM、STS等)入手,对纳米金刚石薄膜表面进行深入细致的分析和表征,力图阐明纳米金刚石表面导电层与其场发射性质的内在相关性. |
Scanning Probe Analysis and Micro-field Electron Emission of Nanodiamond Film |
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| CHEN Jian,ZHANG Wei-hong,XUE Kun,AN Jin. Scanning Probe Analysis and Micro-field Electron Emission of Nanodiamond Film[J]. Journal of Instrumental Analysis, 2006, 25(Z1): 197-198 | |
| Authors: | CHEN Jian ZHANG Wei-hong XUE Kun AN Jin |
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