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光弹性等差条纹级数的识别
引用本文:
林绍坤,李志和.光弹性等差条纹级数的识别[J].实验力学,1990,5(1).
作者姓名:
林绍坤
李志和
作者单位:
机电部郑州机械研究所,机电部郑州机械研究所
摘 要:
本文根据光弹性和光干涉原理,提出了利用双波长测得的扣纹级数小数部分计算条纹全量的方法,并经计算和实验验证其正确性,它的精度取决于小数条纹部分的测量精度.本方法将为光弹性实验数据的自动采集提供了方便.
关 键 词:
双波长
条纹全量
光弹性
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