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一种基于复合斜条纹的相位测量偏折术方法
引用本文:胡霞,刘元坤.一种基于复合斜条纹的相位测量偏折术方法[J].光学与光电技术,2023(1):28-36.
作者姓名:胡霞  刘元坤
作者单位:四川大学电子信息学院
基金项目:国家自然科学基金(62075143);
摘    要:在相位测量偏折术(Phase Measuring Deflectometry,PMD)中为获取面形梯度,需要分别获取水平和垂直相移条纹图像,因此所需图像通常较多。为了减少条纹投影幅数,提出一种新的基于复合条纹的相位获取方法,通过将水平和垂直相位信息叠加形成斜条纹,实现基于5幅复合斜条纹的相位获取方法,相位测量精度高于5步正交光栅相移方法。进一步当系统存在非线性响应时,提出了基于7幅斜复合条纹的相位获取方法,可有效消除系统2阶非线性误差。计算机仿真和实验表明所提方法切实可行,其测量精度高于采用同样帧数的正交条纹方法。

关 键 词:偏折术  条纹分析  非线性分析  相位误差校正
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