|
|||||
|
|
| 表面残留有机沾污物的TOF—SIMS及XPS研究 | |
| 作者姓名： | 邓朝辉 林晶 |
| 摘 要： | 飞行时间次级离子质谱（ＴＯＦ－ＳＩＭＳ）结合Ｘ射线光电子能谱（ＸＰＳ）分析了用化学方法清洗后，银片上残留的未知的有机物，结果显示，有机沾污物主要是一些合１８～３０碳原子，碳链饱和度很高的酮类和酯类化合物；个别有机物可能是硬脂酰胺。这种结构特点使有机物中的Ｃ＝Ｏ基团易于采取氧原子指向基本表面的取向。通过带部分负电荷的氧原子与金属基体镜像力的作用而增强粘附，ＴＯＦ－ＳＩＭＳ－二维离子像显示有机沾污物在 |
| 关 键 词： | TOF－SIMS XPS 有机沾污物 银片 |
| 本文献已被 维普 等数据库收录！ | |