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| 还原-色层分离富集-光谱法测定荧光级氧化铕中的稀土杂质 | |
| 作者姓名： | 王振莹 王长庆 伍星 母宗绪 |
| 作者单位： | 北京有色金属研究总院(王振莹，王长庆，伍星)，北京有色金属研究总院(母宗绪) |
| 摘 要： | 发射光谱法直接测定纯Eu_2O_3中的稀土杂质,不能满足荧光级Eu_2O_3的分析要求,应对稀土杂质进行化学富集。铕可被还原为二价,较易与其他三价稀土分离。采用还原~-柱色层法,在封闭体系中进行分离,有效地避免二价铕的氧化而无需保护气氛。针对荧光 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |
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