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高成像质量Offner成像光谱仪的理论分析与研制
引用本文:韩姗,黄元申,李柏承,张大伟,倪争技,庄松林.高成像质量Offner成像光谱仪的理论分析与研制[J].光子学报,2014,43(4):430001.
作者姓名:韩姗  黄元申  李柏承  张大伟  倪争技  庄松林
作者单位:韩姗:上海理工大学 光学仪器系统研究中心 教育部及上海市现代光学系统重点实验室,上海 200093
黄元申:上海理工大学 光学仪器系统研究中心 教育部及上海市现代光学系统重点实验室,上海 200093
李柏承:上海理工大学 光学仪器系统研究中心 教育部及上海市现代光学系统重点实验室,上海 200093
张大伟:上海理工大学 光学仪器系统研究中心 教育部及上海市现代光学系统重点实验室,上海 200093
倪争技:上海理工大学 光学仪器系统研究中心 教育部及上海市现代光学系统重点实验室,上海 200093
庄松林:上海理工大学 光学仪器系统研究中心 教育部及上海市现代光学系统重点实验室,上海 200093
基金项目:国家自然科学基金(Nos. 61176085, 11105149)、国家科技支撑计划(No. 2011BAF02804)、国家重大科学仪器设备开发项目(No. 2011YQ15004004)、上海市教委曙光项目(No. 11SG44)、上海市超精密光学加工与检测服务平台建设(No. 11DZ2290301)、上海市重点学科建设项目(No. S30502)、高等学校博士学科点专项科研基金(No. 2012312013000)和上海市研究生创新基金(No. JWCXSL1302)资助
摘    要:以双镜系统为基础构建了Offner成像光谱仪,并利用光程函数来获得一种Offner成像光谱仪的初始结构.通过光学设计软件Code V对该初始结构进行了仿真与优化,优化后的光谱仪具有高成像质量,其均方根点列图直径明显降低,调制传递函数曲线在子午像与弧矢像上都获得了好的成像效果.该研究免去了过于复杂的像差推导过程,并在宽光谱400~1 300nm条件下获得了具有高成像质量的Offner光谱仪结构,为光谱仪的搭建提供了理论基础.

关 键 词:光学设计  光学系统  光程函数  Offner成像光谱仪  光谱分析
收稿时间:2013/7/22

Theoretical Analysis and Research about High Image Quality Offner Imaging Spectrometer
Abstract:
Keywords:Optical design  Optical systems  LPF  Offner imaging spectrometer  Spectrum analysis
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