Semiquantitative analyses by secondary ion mass spectrometry using one fitting parameter

Summary A procedure for SIMS semiquantitative analysis, based on the use of one fitting-parameter, has been applied to metal and mineral standards with satisfactory results. Values of this parameter for various matrices are given, and prospects for analyses involving no reference elements are discussed. Analytical accuracies obtainable for individual elements are assessed in terms of matrix-independent error factors.

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Zusammenfassung Eine Methode zur semiquantitativen SIMS-Analyse, die im Gegensatz zu den aus der Literatur bekannten Verfahren nur einen Anpassungsparameter benötigt, wurde mit gutem Erfolg an Metall- und Mineralstandards getestet. Werte des Anpassungsparameters für verschiedene Matrices wurden angegeben und Aussichten für eine Weiterentwicklung dieser Methode in Richtung auf standardfreie Analysen wurden besprochen. Die analytische Richtigkeit für einige Elemente wurde mit Hilfe von matrixunabhängigen Fehlerfaktoren abgeschätzt.

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Presented at the International Symposium on Microchemical Techniques 1977, Davos, May 1977.