| 制备条件对Pr123体系氧含量及正电子寿命谱影响 |
| |
| 引用本文： | 曹桂新,李平林,刘永生,曹世勋,张金仓.制备条件对Pr123体系氧含量及正电子寿命谱影响[J].低温物理学报,2003,25(Z2):461-465. |
| |
| 作者姓名： | 曹桂新 李平林 刘永生 曹世勋 张金仓 |
| |
| 作者单位： | 上海大学物理系,上海,200436 |
| |
| 基金项目： | 国家自然科学基金，10274049， |
| |
| 摘 要： | 为了澄清Pr抑制超导电性机理及Pr占Ba位问题,本文研究了不同的制备条件下PrBa2Cu3O7-δ(Pr123)样品的物性,分析了电阻率和氧含量随烧结温度不同所表现出的变化.结果表明,烧结温度为880℃时样品的电阻率最低,高于920℃时,电阻率最大,同时也不利于体系吸氧,这可能是由于PrBa缺陷而引起.正电子寿命谱也因此表现出相应的变化规律.短寿命τ1参数和中间寿命τ2参数均在900℃出现最低峰值.由此可知,单从温度条件考虑,制备Pr123的最佳烧结温度应该为900℃左右.
|
| 关 键 词： | 正电子湮没 氧含量 PrBa缺陷 |
EFFECT OF SINTERING ATMOSPHERE AND TEMPERATURE ON OXYGEN CONTENT AND POSITRON LIFETIME OF Pr123 |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | |
| 本文献已被 万方数据 等数据库收录！ |
|
