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VHF-PECVD法制备P型微晶硅锗的研究
引用本文:尚泽仁,张建军,张丽萍,胡增鑫,孙建,薛俊明,赵颖,耿新华.VHF-PECVD法制备P型微晶硅锗的研究[J].光电子.激光,2008,19(8).
作者姓名:尚泽仁  张建军  张丽萍  胡增鑫  孙建  薛俊明  赵颖  耿新华
作者单位:南开大学光电子所,光电子薄膜器件与技术天津市重点实验室,光电信息科学与技术教育部重点实验室,天津300071
基金项目:国家重点基础研究发展计划“973”资助项目(2006CB202602,2006CB202603); 国家自然科学基金重点资助项目(60437030); 教育部留学回国人员科研启动基金资助项目(2005)546)
摘    要:以SiH4和GeF4为反应气体,采用甚高频等离子体增强化学气相沉积(VHF-PECVD)方法制备了P型微晶硅锗(P-μc-Sil-xGex)薄膜。研究GeF4浓度对P型微晶硅锗材料组分、结构及电学特性的影响。随GeF4浓度的增加,薄膜中的锗含量增加,暗电导和晶化率先增加,后减小;在薄膜厚度为72nm,GeF4浓度为4%时,得到了电导率达1.68s/cm,激活能为0.047eV,晶化率为60%,在长波区域的平均透过率超过0.9的P型微晶硅锗。

关 键 词:P型微品锗硅  VHF-PECVD  窗口层  太阳电池
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