| Ba2TiSi2O8晶体的生长及包裹物缺陷分析 |
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| 引用本文： | 刘小凤,魏庆科,喻建兵,胡晓琳,庄乃锋,林树坤,陈建中.Ba2TiSi2O8晶体的生长及包裹物缺陷分析[J].人工晶体学报,2013,42(12):2495-2499. |
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| 作者姓名： | 刘小凤 魏庆科 喻建兵 胡晓琳 庄乃锋 林树坤 陈建中 |
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| 作者单位： | 福州大学化学化工学院,福州,350116 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金(50902022,51272044);福建省自然科学基金(2013J01180,2012J01033) |
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| 摘 要： | 采用提拉法生长了Ba2TiSi2O8 (BST)晶体,并采用SEM和EDS等手段对晶体内部包裹物缺陷进行了分析.发现多晶原料中的Na,K,C1杂质元素的存在是导致晶体内部产生包裹物缺陷的主要诱因,采用低的生长速率和较快的晶体转速有利于获得高质量BTS单晶.另外,本论文还对晶体的硬度和透过光谱进行了测试与分析.
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| 关 键 词： | Ba2TiSi2O8 提拉法 晶体缺陷 硬度 |
Growth and Inclusion Defect Analysis of Ba2TiSi2O8 Crystal |
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| LIU Xiao-feng,WEI Qing-ke,YU Jian-bing,HU Xiao-lin,ZHUANG Nai-feng,LIN Shu-kun,CHEN Jian-zhong.Growth and Inclusion Defect Analysis of Ba2TiSi2O8 Crystal[J].Journal of Synthetic Crystals,2013,42(12):2495-2499. |
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| Authors: | LIU Xiao-feng WEI Qing-ke YU Jian-bing HU Xiao-lin ZHUANG Nai-feng LIN Shu-kun CHEN Jian-zhong |
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