| 采用薄靶方法测量低能电子致Al,Ti,Cu,Ag,Au元素K壳层电离截面与L壳层特征X射线产生截面 |
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| 引用本文： | 李博,李玲,朱敬军,林炜平,安竹.采用薄靶方法测量低能电子致Al,Ti,Cu,Ag,Au元素K壳层电离截面与L壳层特征X射线产生截面[J].物理学报,2022(17):197-208. |
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| 作者姓名： | 李博 李玲 朱敬军 林炜平 安竹 |
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| 作者单位： | 四川大学原子核科学技术研究所辐射物理及技术教育部重点实验室 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金(批准号:12175158)资助的课题~~； |
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| 摘 要： | 使用5—27 keV能量范围内的单能电子束轰击薄碳衬底上的薄Al (Z=13),Ti (Z=22),Cu (Z=29),Ag (Z=47),Au(Z=79)靶,使用硅漂移型探测器(SDD)收集产生的特征X射线,测量了Al,Ti,Cu的K壳层电离截面以及Cu,Ag和Au的L壳层特征X射线的产生截面,并且使用蒙特卡罗PENELOPE程序对实验结果进行了修正.本文给出了Cu的L壳层特征X射线产生截面.与半相对论扭曲波玻恩近似(semi-relativistic distorted-wave Born approximation,DWBA)理论值相比,本文的大多数实验值在7%的范围内与理论值符合.研究表明,中重元素的L壳电离截面的理论计算以及相应的原子参数有待更精确的确定.
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| 关 键 词： | 原子内壳层电离 特征X射线 截面 蒙特卡罗模拟 |
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