微光像增强器光晕消失时间测试方法 |
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引用本文: | 吴梦雪,钱芸生,王璐子,杨淑宁,张琴.微光像增强器光晕消失时间测试方法[J].应用光学,2024(3):652-658. |
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作者姓名: | 吴梦雪 钱芸生 王璐子 杨淑宁 张琴 |
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作者单位: | 1. 南京理工大学电子工程与光电技术学院;2. 微光夜视技术重点实验室 |
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基金项目: | 国防基础科研计划(JCKY2018208B016); |
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摘 要: | 光晕(halo)效应对微光像增强器探测的应用造成了不利影响且不可避免。微光像增强器的光晕消失时间缺乏测试方法,因此提出了基于数字目视的光晕消失时间测试系统。该系统通过开关电源给LED光源提供频率为25 Hz、占空比可调的脉冲信号,利用高帧率相机连续采集1 500张像增强器经直径为3.5 mm小孔后的图像,其中包含若干个完整的明暗周期。通过重复计算标准差,去除偏离平均值的周期序列来优化周期信息,获得亮暗周期内光源熄灭的图片索引,同理可获得光晕消失的图片数量,从而计算得到光晕消失时间。编号为GZ318118A的像增强器光晕消失时间为3.33 ms。测试结果表明,测量装置的重复性为0.863%,可以对光晕消失时间进行有效测试。
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关 键 词: | 光学器件测量 光晕消失时间 微光像增强器 光晕直径 |
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